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K6-C测厚仪的PH1系列探头用于测量钢基材上的电镀镍。
K6-C测厚仪的PH1系列探头用于测量钢基材上的电镀镍。
浏览人数：12 发表时间：2026-03-11
K6-C测厚仪的PH1系列探头用于测量钢基材上的电镀镍。涡流相位测量方法的探头 K6-C测厚仪的PH1系列探头包含一个“涂层/基体”特性曲线。 PH1
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产品简介
K6-C测厚仪的PH1系列探头用于测量钢基材上的电镀镍。涡流相位测量方法的探头
K6-C测厚仪的PH1系列探头包含一个“涂层/基体”特性曲线。
PH1
用于测量钢基材上的电镀镍。
技术特点：
测量范围：0-300μm；
测量精度：≤±(0.03T+1)μm；
最小基底直径：Φ1mm；
测量区域直径：Φ4.7mm；
探头外形尺寸：Φ12 ×40mm；
注：在一定情况下，可测量非导电涂层下方的电镀涂层。
